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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

研究员为聚合物 Nanostructure 描述特性使用基于 AFM 的红外分光学

Published on October 11, 2012 at 5:50 AM

基于纳米技术的材料确定启用紧要地纳诺制造的需要的化工计量学

基本强制显微镜红外分光学是一个基于纳米技术的材料确定技术 (赊帐: 伊利诺伊大学尔般那平原的)

其中一个纳米技术时代的关键成绩是的制造技术发展可能制造从多个材料形成的 nanostructures。 合成材料的这样毫微米缩放比例综合化启用了在电子设备、太阳能电池和医疗诊断的创新。

当有重大的突破在纳诺制造中时,有在可能关于由多个集成材料做的 nanostructures 的情报的评定技术的较少进展。 伊利诺伊大学的研究员尔般那平原和 Anasys Instruments Inc. 现在报告可能支持最尖端的纳诺制造的新的诊断工具。

“我们使用基本强制显微镜基于红外分光学 (AFM-IR) 分析聚合物 nanostructures,并且集成聚合物 nanostructures 系统”,在伊利诺伊大学尔般那平原学院和工程说威廉国王、工程机械科学的部门的极乐教授。 “在此研究,我们能化工分析聚合物线路一样小象 100 毫微米。 我们可以明显地也区分不同的 nanopatterned 聚合物使用他们的红外吸收光谱如获得由 AFM-IR 技术”。

在 AFM-IR,迅速地搏动的红外 (IR)激光处理在吸收红外线光并且进行迅速热机的扩展的一个稀薄的范例。 与聚合物 nanostructure 联系的一个 AFM 技巧共鸣以回应扩展,并且此共鸣由 AFM 评定。

“当 nanotechnologists 长期感兴趣对集成 nanostructures 时制造,他们由可能识别物质构成在毫微米缩放比例的缺乏工具限制了”。 前述克雷格 Prater, Anasys Instruments Inc. 的研究和院长技术军官的共同执笔者 “AFM-IR 技术提供唯一功能同时映射 nanoscale 形态学和执行化学分析在 nanoscale”。

来源: http://engineering.illinois.edu/

Last Update: 11. October 2012 06:22

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