Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

Synopsys は 20 ナノメーター SoC デザインのためのメモリテスト解決を進水させます

Published on November 7, 2012 at 4:30 AM

Synopsys、 Inc. (NASDAQ: SNPS)、全体的リーダー提供してソフトウェア、チップおよび電子システムの革新を加速するのに使用される IP およびサービスは今日 DesignWare® の星のメモリ System® 発表しました、自動化された前および後ケイ素のメモリテストの新しいリリースを、診断デバッグすればデザイナーが結果の品質を改善することを可能にする修理解決は (QoR)デザイン時間を減らすために、より低いテスト製造業の収穫を要し、最適化します。

最新リリースは、目標として 20 nm および FinFET ベースのデザインを、新しいアーキテクチャを含み、階層的な実施を可能にします大きい SoC の確認はまた領域を 30% 大いに減らしている間テストを実行するために必要な時間を減らすことができるたくさんの埋め込まれたメモリの含を設計します。 さらに、新しいリリースは効率的に 20 nm プロセスで以下にプロセス変化の欠陥および抵抗欠陥のような見られる新しいメモリ欠陥のためのテストそして修理をアドレス指定します。

「SoC のほぼ 50% 占める埋め込まれたメモリと組み込み自己テストおよび修理の広範囲のメモリテスト解決を持っていることは総費用を下げている間達成」、に重大最適の収穫のです、エリック Esteve の IPNest の IP のアナリストを言いました。 「20 ナノメーターでデザインで流行する以下に」。の故障メカニズムおよび Synopsys DesignWare の星の記憶装置の次世代の紹介はかなり特定のメモリ欠陥を検出するデザイナーの能力を改善します

星の記憶装置の新しいアーキテクチャは高度のメモリアドレス指定を提供し、 20 nm の技術ノードに発生するためにが本当らしい以下に静的で、ダイナミックな欠陥ただ検出するための最適化されたテストアルゴリズムを作成するためにプログラム可能なメモリ背景は必要模造しますがまた変化および抵抗欠陥を処理します。 新しいバージョンはまた重要な領域の節約を提供する一義的なテスト要素だけ保存によってテスト世代別論理を最適化します。

星の記憶装置は元のデザイン階層を維持している間 SoC 内のテストおよび修理 IP の階層的な生成そして確認を可能にします。 これは全面的な SoC デザイン時間を減らす現在の仕様の抑制およびコンフィギュレーション・ファイルの再使用を許可している間デザインおよび確認の時間を高速化できます。 これらの新しい機能の組合せは前の世代別製品と比較される 30% までより速いデザイン閉鎖を可能にしている間総テストおよび修理箇所を減らします。 これらの機能はまた大量生産にケイ素持って来まおよび収穫の最適化の欠陥分析に必要な時間を減らすことができま月よりもむしろ週に発生することを傾斜路が可能にします。

解決はテストモードのコアの中のメモリへのアクセスを提供する前もって構成されたテストバスの使用によって高性能プロセッサのコアの速度テストそして修理を可能にします。 システムはメモリをテストするのにこのバスを使用し、プロセッサのコアパフォーマンスの影響を避けるために IP のコアの外のメモリテストおよび修理論理を追加します。 あらゆる鋳物場またはプロセスノードのための修理可能な、修理不能のメモリの使用のために設計されていて、星の記憶装置は Synopsys の DesignWare によって埋め込まれるメモリをメモリ内のタイミング重大なテストおよび修理論理を、それ以上の改良パフォーマンス堅くすることによって統合に、力および領域、またテスト品質与えます。

Synopsys の TetraMAX® ATPG および DFTMAX™の圧縮を含む統合ベースのテスト解決の広範囲のポートフォリオと組み合わせて、組み込みの自己診断の DesignWare SerDes IP はおよび収穫の分析のための Explorer® のツールをもたらします、星の記憶装置はすぐに全面的なテスト費用および品質の目的を達成するために完全なテスト解決の組を提供します。

「20 ナノメーター SoC のために設計します、強い実行領域効率的なメモリテストおよび修理 IP は管理の製造業の収穫に重大です」、ジョン Koeter の副大統領および Synopsys の IP のためのマーケティングのシステムを言いました。 「最新の星の記憶装置リリース欠陥適用範囲および修理しか改善しが、そうしま、第 3 によってほとんど減らしている間ケイ素領域を彼らの 20 ナノメーターを得ることを工学チームが可能にしますより低い製造原価とより速く販売するように設計します」。は

ソース: http://www.synopsys.com/

Last Update: 7. November 2012 05:47

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit