Synopsys 生成内存 20 毫微米 SoC 设计的测试解决方法

Published on November 7, 2012 at 4:30 AM

Synopsys, Inc. (那斯达克:SNPS),全球领导先锋提供软件,用于的 IP 和服务加速在筹码和电子系统的创新,今天宣布了其 DesignWare® 星形内存 System®,一个自动化的前和之后硅内存测试新的版本,请调试,诊断,并且使设计员改进结果的质量的维修服务解决方法 (QoR),减少设计时间,更低的测试花费并且优选制造产量。

最新的版本,瞄准 20 nm 和基于 FinFET 的设计,包括新的结构启用分层结构实施,并且大 SoC 的验证设计包含千位嵌入内存,可能减少需时实施测试,虽然同样减少区多达 30%。 另外,新的版本高效地解决测试和维修服务新的内存缺陷的被看到在 20 nm 进程中以下例如处理差异故障和抗拒故障。

“有占用接近 50% 的 SoC 的嵌入内存,有与固定自检和维修服务的一个全面内存测试解决方法对达到最佳的产量至关重要,当降低总成本时”, IP 分析员说埃里克 Esteve, IPNest 的。 “是流行在设计在 20 毫微米以下其 DesignWare 星形存储系统的下一代的 Synopsys 的简介极大改进设计员的能力检测特定内存缺陷和失效机理”。

在星形存储系统的新的结构提供先进记忆体定址,并且可编程序的内存背景仿造需要创建检测的不仅静态和动态故障优化测试算法,而且处理差异和抗拒故障,是可能发生在技术节点 20 毫微米以下。 新版本通过存储仅唯一测试要素也优选测试生成逻辑,提供重大的区储蓄。

星形存储系统允许测试和维修服务 IP 的分层结构生成和核实在 SoC 内的,当维护原始设计层次结构时。 这可能加速设计和核实时间,当允许现有设计约束和配置文件重新使用,减少整体 SoC 设计时间时。 这些新的功能的组合由 30% 减少总测试和修理面积与早先生成产品比较,当启用更加快速的设计关闭时。 这些功能可能也减少为硅给批量生产带来和产量优化的缺陷分析的需时,使这架舷梯在几星期发生而不是几个月。

通过使用一辆预先配置的测试公共汽车,这个解决方法允许在速度高性能处理器核心测试和维修服务,提供存取对于在核心里面的内存在测试方式下。 这个系统使用此公共汽车测试内存并且添加内存在 IP 核心之外的测试和维修服务逻辑避免对处理器核心性能的所有影响。 设计为使用有所有铸造厂或进程节点的可修理和不能修理的内存,星形存储系统提供综合化以 Synopsys 的 DesignWare 嵌入内存通过硬化在内存内的规定期限重要测试和维修服务逻辑,进一步改善的性能、功率和区以及测试质量。

与基于综合的测试解决方法的组合 Synopsys 的全面投资组合包括 TetraMAX® ATPG 和 DFTMAX™压缩,与固定自测的 DesignWare SerDes IP 和产生为产量分析的 Explorer® 工具,星形存储系统提供一个完全测试解决方法套件迅速实现整体测试费用和质量目标。

“20 毫微米 SoC 设计,实施稳健,区高效的内存测试和维修服务 IP 对管理的制造产量至关重要”,约翰 Koeter,在 Synopsys 的市场营销的副总裁 IP 的和系统说。 “最新的星形存储系统版本不仅改进故障覆盖范围和维修服务,但是如此执行,当几乎减少硅区由第三,使工程小组获得他们的 20 毫微米时设计快速地销售与更低的制造成本”。

来源: http://www.synopsys.com/

Last Update: 7. November 2012 05:45

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit