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CRAIC の技術 QDI の 2010 年のマイクロ・スペクトル光度計は単一の器械が付いているトレース汚染物を検出し、分析します

Published on May 26, 2008 at 12:09 PM

フラットパネルディスプレイ、 MEMS 装置および模造された半導体のような精密装置の有機性および無機汚染物は頻繁に検出しにくいです。 多くの汚染物材料は光学顕微鏡検査のような共通の解析技法に本質的に見えないです。

CRAIC の技術 QDI 2010™のマイクロ・スペクトル光度計

CRAIC Technologies、 Inc. のアプリケーション集中された微視的分析の解決の全体的なリーダーは、機能をに検出し、分析します単一の器械が付いているトレース汚染物を提供します。 これは紫外顕微鏡検査両方の任意選択 QDI ImageUV™のパッケージが装備されている CRAIC の技術 QDI 2010™のマイクロ・スペクトル光度計の紫外 microspectroscopy との結合によってされます。

多くの有機性および無機材料は紫外領域のライトを吸収しますが、肉眼に見えないです。 これは標準光学顕微鏡検査がこれらの汚染物を検出できないそれらを分析することができるあることを意味します。 他の技術が使用できている間、広範なサンプル準備を必要とし、サンプルを傷つけてもいいです。 紫外マイクロイメージ投射の利用によって、ユーザーはすぐにでき、容易に、非有害多くの汚染物を見つけて下さい。 紫外線 microspectroscopy それを識別するために汚染物の電子分光特性を測定するためにそれから行うことができます。 最大吸光度の波長の決定によってまたスペクトルが更に汚染物の画像の明快さを改善するのに使用することができます。 QDI 2010™のマイクロ・スペクトル光度計の両方の技術の結合によって、ユーザーはフラットパネルディスプレイ、半導体チップ、 MEMS および microfluidic 装置で汚染物材料を見つけ、識別容易にできます。 QDI 2010™のマイクロ・スペクトル光度計は紫外線顕微鏡検査を結合する最初のシステム単一のツールで microspectroscopy であり。 それはまた紫外、目に見えるおよび近い赤外線反射率、伝送および蛍光顕微鏡および microspectroscopy 可能にするためにアップグレードすることができます。

Last Update: 14. January 2012 19:08

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