FRT Вводит Новый Оптически Профилометр на Выставке 2009 УПРАВЛЕНИЯ

Published on April 30, 2009 at 6:12 AM

FRT представляет новый профилометр на УПРАВЛЕНИИ 2009 этого года в Штуттгарте. Оптически profiler был оптимизирован для измерения без разрушения поверхностей. Профиль MicroSpy измеряет шершавость, контур, 3D топографию, высота шага, planarity, геометрия, том, носящ площадь контакта и больше с метрологической точностью.

Новый оптически profiler следовать MicroSpy Topo, удостоенный премии confocal микроскопом который был введен FRT в 2008. Как с всеми инструментами метрологии от серии MicroSpy, новый профилометр легок для того чтобы работать, бюджет-содружественно и мощно в своем представлении (разложении в вертикальном направлении до 3 нанометров).

Инструменты метрологии MicroSpy компактные инструменты одиночн-датчика с высокоточным моторизованным x, y-этапом и CCD-камерой для удобный располагать образца. В зависимости от системы, датчик причален посредством ручной оси с грубой и прецизионной установкой или моторизованной z-осью.

FRT предлагает 2 сенсорной техники в своих инструментах MicroSpy измеряя. MicroSpy Topo использует confocal микроскопию, измеряя метод «с первой попытки». Новый оптически profiler использует лини-скеннирование, внеконтактный хроматичный датчик пункта с источником света СИД. FRT предлагает различные датчики пункта с различными измеряя рядами для того чтобы включить обширный диапозон применения на поверхностях от отражательного к поглощению, ровных к грубой или даже прозрачному. Это позволяет пользователь дать которые уступчивы с установленными стандартами метрологии как DIN, ISO, SEMI, ASTM или JIS в 2D и 3D с точностью микрометра и нанометра.

Для того чтобы узнать больше о инструментах метрологии FRT MicroSpy и увидеть новый Профиль MicroSpy, посетите FRT на УПРАВЛЕНИИ 2009 этого года. (зала 7, будочка 7232)

Last Update: 14. January 2012 07:19

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit