Keysight の Nano 圧子 G200

Keysight の Nano 圧子 G200

Keysight の Nano 圧子 G200 は世界 nanoscale の機械テストのための最も正確で、最も適用範囲が広い、ユーザーフレンドリーの器械です。 電磁石の作動はそれが力および変位の並ぶものがないダイナミックレンジを達成するようにします。 G200 Nano 圧子はユーザーが ISO 14577 に従ってヤングの係数および硬度を測定することを可能にします。 それはまた 6 つの一桁上の変形の測定を可能にします (ナノメーターからミリメートルへの)。 Keysight の技術から使用できるいろいろなオプションはテストの必要性を取り扱うために追加することができます。

G200 Nano 圧子の機能は 10 N まで頻度特定のテスト、量的なスクラッチおよび摩耗テスト、統合されたプローブベースのイメージ投射、高温テスト、拡大された搭載能力促進するためにおよびカスタマイズ可能なテストプロトコル拡張することができます。 ユーザーは最小のサンプル準備が付いている彼らの材料の構造、特性およびパフォーマンス間の関係の迅速かつ簡単に量を示せます。

G200 Nano 圧子標準構成は <0.01nm の変位の解像度および >500ìm の最大刻み目の深さを提供する Keysight XP の刻み目ヘッドを利用します。 表面の接触のレベルにロード変位の実験の範囲を拡張するためには、システムはダイナミックな接触のモジュールによって装備することができます (DCM)。 このオプションを使うと、研究者は材料の表面に刻み目のはじめの幾つかのナノメーターだけ、前接触の機械工を調査できます。 DCM にタイプのあらゆる器械の低雑音の床があります。

G200 Nano 圧子の主要特点は下記のものを含んでいます:

  • 研究者をテストのための 100mm x 100mm の使用可能な表面積都合します
  • 電磁石の作動は力および変位の並ぶものがないダイナミックレンジを可能にします
  • 適用範囲が広く、アップグレード可能な nanoindentation の器械は多くのアプリケーションのために設定することができます
  • 高いロードオプションは力の 10 N まで nanoindenter のロード機能を拡大します
  • 新しい DCM II オプションは 3x に元の DCM オプションより高いローディングの機能を提供します
  • LFM オプションはスクラッチおよび摩耗のテスト、 MEMs の精査に 3D 数量化解析を提供します

G200 Nano 圧子の性能ケイパビリティは次の通りあります:

  • 半導体、薄膜、 MEMs の堅いコーティング、 DLC のフィルム、金属、製陶術、合成物
  • またポリマー、生体材料、生物学を含むアプリケーションの使用のための理想
  • 対応 ISO 14577 の標準を正確で、反復可能な結果に与えます
  • 刻み目の深さによる剛さの連続的な測定によるダイナミックな特性の性格描写
  • 薄膜材料の基板独立した測定のための排他的な nanoindenter 方法
  • 実時間制御、順調なテストプロトコル開発、ソフトウェアによる精密ドリフト補償

Last Update: 17. December 2014 11:08

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