La microscopia de la fuerza de la antena de Kelvin (KPFM) correlaciona potencial electroestático en las superficies de la muestra de proporcionar a la información sobre la estructura electrónica, dopando variaciones niveladas, cargas atrapadas, e identidad química en las aplicaciones que colocan de la investigación orgánica del photovoltaics al silicio y a la caracterización amplia del semiconductor del bandgap.
El módulo de PeakForce KPFM™ de Bruker para la Dimensión Icon® y MultiMode® 8 AFMs combina el conjunto completo de mecanismos de la detección de KPFM, incluyendo amplitud y la modulación de frecuencia, con TappingMode™ y PeakForce Tapping™ para proporcionar a datos nanomechanical cuantitativos directamente correlacionados. El resultado es sensibilidad mejorada de las mediciones y de la inmunidad de la modulación de frecuencia a los artefactos de la diafonía mecánica.
Además, PeakForce KPFM proporciona a un parámetro totalmente automatizado fijado con ScanAsyst®. El resultado es una mejoría importante en los datos potenciales superficiales cuantitativos para los materiales investigación así como las aplicaciones del semiconductor.
La Solución Completa de KPFM
- Las mediciones más exactas, más repetibles, y sensibles de la función de trabajo
- La resolución espacial Marginal combinó con contraste potencial artefacto-libre
- PeakForce QNM® correlacionó la correspondencia nanomechanical cuantitativa de la propiedad
- Facilidad de empleo de ScanAsyst® y resultados optimizados