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Módulo de la Microscopia de la Antena de la Fuerza de PeakForce Kelvin (KPFM) para los Microscopios Atómicos de la Fuerza de Bruker

La microscopia de la fuerza de la antena de Kelvin (KPFM) correlaciona potencial electroestático en las superficies de la muestra de proporcionar a la información sobre la estructura electrónica, dopando variaciones niveladas, cargas atrapadas, e identidad química en las aplicaciones que colocan de la investigación orgánica del photovoltaics al silicio y a la caracterización amplia del semiconductor del bandgap.

El módulo de PeakForce KPFM™ de Bruker para la Dimensión Icon® y MultiMode® 8 AFMs combina el conjunto completo de mecanismos de la detección de KPFM, incluyendo amplitud y la modulación de frecuencia, con TappingMode™ y PeakForce Tapping™ para proporcionar a datos nanomechanical cuantitativos directamente correlacionados. El resultado es sensibilidad mejorada de las mediciones y de la inmunidad de la modulación de frecuencia a los artefactos de la diafonía mecánica.

Además, PeakForce KPFM proporciona a un parámetro totalmente automatizado fijado con ScanAsyst®. El resultado es una mejoría importante en los datos potenciales superficiales cuantitativos para los materiales investigación así como las aplicaciones del semiconductor.

La Solución Completa de KPFM

  • Las mediciones más exactas, más repetibles, y sensibles de la función de trabajo
  • La resolución espacial Marginal combinó con contraste potencial artefacto-libre
  • PeakForce QNM® correlacionó la correspondencia nanomechanical cuantitativa de la propiedad
  • Facilidad de empleo de ScanAsyst® y resultados optimizados

Last Update: 11. September 2012 10:45

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