APE研究TRIA掃描近場光學顯微鏡(SNOM)

掃描探針顯微鏡(SPM)方法的發明和後來的發展產生了必要的一步,在光學測量工具。阿貝衍射極限的超越的可能性已經達到近場光的光學顯微鏡(SNOM或NSOM)。

近場光學顯微鏡顯微鏡採用 SPM的精密壓電光柵尖銳的探針掃描獲得光學圖像,而不是通常的波長分辨率有限。

TRIA,近場光學顯微鏡研究從猿是一個孔徑的近場光學顯微鏡顯微鏡,能收集光信號的反射,透射和背反射模式。表面科學,光學和生物學研究人員需要一個基本的顯微鏡易於擴展和與他們的科學 EQUIPEMENT interfaciable的文書。

主要特點:

  • 易於使用
  • 多功能
  • 容易更換樣品
  • 採集模式之間輕鬆切換
  • 橫向分辨率更好地然後 50納米

Last Update: 5. October 2011 10:15

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