每位研究员的严重的 AFM 功能
Dimension® Edge™基本强制显微镜 (AFM)系统提供效率化的存取冠上 AFM 性能，表示一个新的生产水平和可达性最先进的 nanoscale 研究的。 它利用 Dimension® Icon® 系统的许多创新提供性能和功能的级别仅可得到从 Bruker。 从顶向下设计传送低偏差和低噪声必要达到发行准备好的数据在分钟而不是几小时，您不会查找更加强大的中间定价的 AFM 别处。
功能
维数边缘 AFM 的功能从 Bruker 的下面概述。
最佳的值闭环维数 AFM
- 所有权传感器设计达到与开放环路的噪声级的闭环准确性
- 被减少的噪声和偏差给大范例 AFM 带来小型范例想象性能
- 显微镜和电子设计启用高图象保真度在中等费用
准确，高分辨率结果快速地
- 与视觉反馈的线性工作流保证在短的时间的优化设置
- 照相机和阶段提供最佳的范例定位和多位置的评定
- 从调查的无缝的转移与最高分辨率实现快速，准确结果
所有应用的解决方法在任何范例
- 露天舞台存取适应实验和范例多种多样
- 优化 AFM 模式和技术适应甚而先进的应用的需要
- 对信号运输路线的固定存取启用自定义评定
初学者和专家的先进的 Nanoscale 功能
- 创新，模数制设计提供高性能在中等费用
- 实验选择模式蒸馏数十年 AFM 专门技术到预先配置的设置
- 集成阶段控制启用直观定位和强大阶段编程