从 Bruker 的维数边缘基本 (AFM)强制显微镜

维数® Edge™基本强制显微镜 (AFM)系统通过合并 Bruker 的 PeakForce 开发的技术提供对高性能、可及性和功能的存取在其选件类®

它利用 Dimension® Icon® 系统的许多创新和被设计提供这个低偏差,并且低噪声必要达到发行准备好的数据在分钟而不是几小时,您不会查找更加强大的中间定价的 AFM 别处。

功能

维数边缘 AFM 的功能从 Bruker 的下面概述。

最佳的值闭环维数 AFM

  • 所有权传感器设计达到与开放环路的噪声级的闭环准确性
  • 被减少的噪声和偏差给大范例 AFM 带来小型范例想象性能
  • 显微镜和电子设计启用高图象保真度在中等费用

准确,高分辨率结果快速地

  • 与视觉反馈的线性工作流保证在短的时间的优化设置
  • 照相机和阶段提供最佳的范例定位和多位置的评定
  • 从调查的无缝的转移与最高分辨率实现快速,准确结果

所有应用的解决方法在任何范例

  • 露天舞台存取适应实验和范例多种多样
  • 优化 AFM 模式和技术适应甚而先进的应用的需要
  • 对信号运输路线的固定存取启用自定义评定

初学者和专家的先进的 Nanoscale 功能

  • 创新,模数制设计提供高性能在中等费用
  • 实验选择模式蒸馏数十年 AFM 专门技术到预先配置的设置
  • 集成阶段控制启用直观定位和强大阶段编程

Last Update: 9. December 2014 20:35

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