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從 Bruker 的維數邊緣基本 (AFM)強制顯微鏡

每位研究員的嚴重的 AFM 功能

Dimension® Edge™基本強制顯微鏡 (AFM)系統提供效率化的存取冠上 AFM 性能,表示一個新的生產水平和可達性最先進的 nanoscale 研究的。 它利用 Dimension® Icon® 系統的許多創新提供性能和功能的級別仅可得到從 Bruker。 從頂向下設計傳送低偏差和低噪聲必要達到發行準備好的數據在分鐘而不是幾小時,您不會查找更加強大的中間定價的 AFM 別處。

功能

維數邊緣 AFM 的功能從 Bruker 的下面概述。

最佳的值閉環維數 AFM

  • 所有權傳感器設計達到與開放環路的噪聲級的閉環準確性
  • 被減少的噪聲和偏差給大範例 AFM 帶來小型範例想像性能
  • 顯微鏡和電子設計啟用高圖像保真度在中等費用

準確,高分辨率結果快速地

  • 與視覺反饋的線性工作流保證在短的時間的優化設置
  • 照相機和階段提供最佳的範例定位和多位置的評定
  • 從調查的無縫的轉移與最高分辨率實現快速,準確結果

所有應用的解決方法在任何範例

  • 露天舞臺存取適應實驗和範例多種多樣
  • 優化 AFM 模式和技術適應甚而先進的應用的需要
  • 對信號運輸路線的固定存取啟用自定義評定

初學者和專家的先進的 Nanoscale 功能

  • 創新,模數制設計提供高性能在中等費用
  • 實驗選擇模式蒸餾數十年 AFM 專門技術到預先配置的設置
  • 集成階段控制啟用直觀定位和強大階段編程

Last Update: 30. October 2013 13:03

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