從 Bruker 的維數邊緣基本 (AFM)強制顯微鏡

從 Bruker 的維數邊緣基本 (AFM)強制顯微鏡

維數® Edge™基本強制顯微鏡 (AFM)系統通過合併 Bruker 的 PeakForce 開發的技術提供對高性能、可及性和功能的存取在其選件類®

它利用 Dimension® Icon® 系統的許多創新和被設計提供這個低偏差,并且低噪聲必要達到發行準備好的數據在分鐘而不是幾小時,您不會查找更加強大的中間定價的 AFM 別處。

功能

維數邊緣 AFM 的功能從 Bruker 的下面概述。

最佳的值閉環維數 AFM

  • 所有權傳感器設計達到與開放環路的噪聲級的閉環準確性
  • 被減少的噪聲和偏差給大範例 AFM 帶來小型範例想像性能
  • 顯微鏡和電子設計啟用高圖像保真度在中等費用

準確,高分辨率結果快速地

  • 與視覺反饋的線性工作流保證在短的時間的優化設置
  • 照相機和階段提供最佳的範例定位和多位置的評定
  • 從調查的無縫的轉移與最高分辨率實現快速,準確結果

所有應用的解決方法在任何範例

  • 露天舞臺存取適應實驗和範例多種多樣
  • 優化 AFM 模式和技術適應甚而先進的應用的需要
  • 對信號運輸路線的固定存取啟用自定義評定

初學者和專家的先進的 Nanoscale 功能

  • 創新,模數制設計提供高性能在中等費用
  • 實驗選擇模式蒸餾數十年 AFM 專門技術到預先配置的設置
  • 集成階段控制啟用直觀定位和強大階段編程

Last Update: 9. December 2014 20:36

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