从 Bruker 的维数图标基本 (AFM)强制显微镜

有 ScanAsyst™的 Dimension® Icon® 基本强制显微镜给 nanoscale 研究员在科学和行业带来性能、功能和 AFM 可及性的新的级别。 在世界的使用的大范例 AFM 平台的大厦,最新的维数系统是数十年的顶点技术革新、用户反映和领先业界的应用灵活性。 图标从顶向下被设计提供在分钟允许用户达到人工制品自由的图象而不是几小时的革命低偏差和低噪声,启用增加的生产率。

被重新解释的 AFM 性能和生产率

合并 Bruker 的领先业界的技巧扫描 AFM 技术的最新的演变,维数图标 AFM 的温度补偿的位置检测器回报在子埃的噪声级为 Z轴和埃排列在 X - Y。 这是在大范例的非常性能, 90 微米扫描范围系统,超过最开放环路,最高分辨率的 AFMs 噪声性能。

除优越解决方法之外,许多维数图标 AFM 的新的功能特别地被设计为新和专家级的 AFM 研究员增加可用性和生产率:

  • 所有权传感器设计完成与开放环路的噪声级的闭环性能以前对大范例 AFMs 的未看见的解决方法的
  • 新设计 XYZ 闭环题头提供更高的扫描速度,不用图象质量损失,启用数据收集的更加了不起的处理量
  • NanoScope 软件的最新的版本提供直观工作流和默认值蒸馏先进的 AFM 进程到预先配置的设置的实验模式
  • 高分辨率照相机和 X - Y 确定快速地允许,更加高效的范例定位
  • 对这个技巧和范例的开敞存取适应标准和自定义的实验一个大种类
  • 硬件和软件利用最最大的所有现在和未来 Bruker AFM 模式和技术,包括我们的映射模式的革命 HarmoniX Nanoscale 有形资产

维数图标的少见的易用、最终性能、例外生产率和优越通用性做出它实际上每种 AFM 应用的明显的选择。 非常获得优质数据那么迅速从未是很容易的。

Last Update: 31. January 2012 23:50

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