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從 Bruker 的維數圖標基本 (AFM)強制顯微鏡

有 ScanAsyst™的 Dimension® Icon® 基本強制顯微鏡給 nanoscale 研究員在科學和行業帶來性能、功能和 AFM 可及性的新的級別。 在世界的使用的大範例 AFM 平臺的大廈,最新的維數系統是數十年的頂點技術革新、用戶反映和領先業界的應用靈活性。 圖標從頂向下被設計提供在分鐘允許用戶達到人工製品自由的圖像而不是幾小時的革命低偏差和低噪聲,啟用增加的生產率。

被重新解釋的 AFM 性能和生產率

合併 Bruker 的領先業界的技巧掃描 AFM 技術的最新的演變,維數圖標 AFM 的溫度補償的位置檢測器回報在子埃的噪聲級為 Z軸和埃排列在 X - Y。 這是在大範例的非常性能, 90 微米掃描範圍系統,超過最開放環路,最高分辨率的 AFMs 噪聲性能。

除優越解決方法之外,許多維數圖標 AFM 的新的功能特別地被設計為新和專家級的 AFM 研究員增加可用性和生產率:

  • 所有權傳感器設計完成與開放環路的噪聲級的閉環性能以前對大範例 AFMs 的未看見的解決方法的
  • 新設計 XYZ 閉環題頭提供更高的掃描速度,不用圖像質量損失,啟用數據收集的更加了不起的處理量
  • NanoScope 軟件的最新的版本提供直觀工作流和默認值蒸餾先進的 AFM 進程到預先配置的設置的實驗模式
  • 高分辨率照相機和 X - Y 確定快速地允許,更加高效的範例定位
  • 對這個技巧和範例的開敞存取適應標準和自定義的實驗一個大種類
  • 硬件和軟件利用最最大的所有現在和未來 Bruker AFM 模式和技術,包括我們的映射模式的革命 HarmoniX Nanoscale 有形資產

維數圖標的少見的易用、最終性能、例外生產率和優越通用性做出它實際上每種 AFM 應用的明顯的選擇。 非常獲得優質數據那麼迅速從未是很容易的。

Last Update: 31. January 2012 23:50

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